세종대-LG전자 공동 연구팀, 그래핀을 이용한 X선 장비로 의료용 이미징 성공
페이지 정보
- 발행기관
- 한국강사신문
- 저자
- 종류
- R&D
- 나노기술분류
- 나노공정·분석·장비 > 나노측정·분석 기술
- 발행일
- 2024-08-24
- 조회
- 148
본문
● 천승현 교수 및 정상균 박사(세종대), 김진아 책임연구원(LG전자) 공동 연구팀은 반도체 칩 구조를 활용한 전자빔 방출 방식으로 의료용 X선 이미징에 성공
● 연구팀은 그래핀 직성장 기술을 이용해 저전압 및 초고속 전자빔의 방출을 가능하게 하는 그래핀 MOS* 구조를 개발해, 방출 효율을 최대 40%까지 향상하는 데 성공
* MOS : Metal-Oxide-Semiconductor(금속-산화물-반도체)의 약자로, 트랜지스터의 기본 구조
● 연구팀은 여기에 2,140개의 셀을 집적할 수 있도록 실리콘 부분산화공정(LOCOS)을 접목했고, 결과적으로 상용화에 필요한 mA 수준의 X선 발생에 성공
● 본 연구는 향후 컴퓨터의 동작 속도에 버금가는 초고속 디지털 X선 장비에 활용될 수 있을 것으로 기대
Advanced Science (2024.08.15.), Integration of Vertical Graphene Onto a Tunnelling Cathode for Digital X-Ray Imaging