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나노기술 및 정책 정보

세종대-LG전자 공동 연구팀, 그래핀을 이용한 X선 장비로 의료용 이미징 성공

페이지 정보

발행기관
한국강사신문
저자
 
종류
R&D
나노기술분류
나노공정·분석·장비 > 나노측정·분석 기술
발행일
2024-08-24
조회
154

본문

● 천승현 교수 및 정상균 박사(세종대), 김진아 책임연구원(LG전자) 공동 연구팀은 반도체 칩 구조를 활용한 전자빔 방출 방식으로 의료용 X선 이미징에 성공

● 연구팀은 그래핀 직성장 기술을 이용해 저전압 및 초고속 전자빔의 방출을 가능하게 하는 그래핀 MOS* 구조를 개발해, 방출 효율을 최대 40%까지 향상하는 데 성공

* MOS : Metal-Oxide-Semiconductor(금속-산화물-반도체)의 약자로, 트랜지스터의 기본 구조

● 연구팀은 여기에 2,140개의 셀을 집적할 수 있도록 실리콘 부분산화공정(LOCOS)을 접목했고, 결과적으로 상용화에 필요한 mA 수준의 X선 발생에 성공

● 본 연구는 향후 컴퓨터의 동작 속도에 버금가는 초고속 디지털 X선 장비에 활용될 수 있을 것으로 기대


Advanced Science (2024.08.15.), Integration of Vertical Graphene Onto a Tunnelling Cathode for Digital X-Ray Imaging