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나노기술 및 정책 정보

[국내/R&D]초고속 현미경 이용한 나노입자 분석법 개발

페이지 정보

발행기관
UNIST
저자
 
종류
 
나노기술분류
 
발행일
2019-08-07
조회
1,621

본문

UNIST 권오훈 교수 연구팀이 초고속 투과전자현미경을 이용해 펨토초 단위로 나노미터 이하 수준의 물질 구조변화를 볼 수 있는 분석법을 개발함. 기존의 펨토초 시간분해능을 가진 광학 현미경은 관찰 가능한 최소 크기가 나노미터 이상이었으나, 연구진은 펨토초 단위로 초고속 투과전자현미경의 빔속도를 조절해 금 나노입자의 진동을 펨토초 단위로 관찰 및 나노미터 이하의 물체 관찰이 가능했으며, 또한 전자직접검출 카메라를 검출기로 사용해 검출 한도를 10배 정도 높임. 해당 연구는 전자직접검출 카메라를 탑재한 초고속 전자현미경은 세계에서 처음으로 시도한 것이며 단일 입자 수준의 검출 감도에서 음향 진동의 동역학을 시공간적으로 구조화하는데 성공함.

이번 연구는 실시간으로 원자 수준의 구조를 관찰하고 분석하는 원천기술이 될 것으로 기대됨.

The Matter 게재

한국연구재단, 기초과학연구원, 삼성종합기술원 지원