나노기술 및 정책 정보

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한국표준과학연구원 김영식 박사 연구팀이 복잡한 곡면의 부품 형상을 생산 공정에서 즉시 검사할 수 있는 측정기술을 개발함. 연구팀은 플렉서블 디스플레이, 자동차 외관, 차세대 2차전지 초박판 등 첨단부품의 표면 변화와 결함을 이미지 한 장만으로 검사 가능한 자유곡면 3차원 측정기술을 개발함. 연구팀은 기존의 한계를 뛰어넘은 ‘자유곡면 실시간 3차원 형상측정기술’을 통해 이미지 한 장만으로 자유곡면에 대한 나노미터 수준의 초정밀 실시간 표면 검사를 가능케 함. 검사가 복잡하거나 오래 걸리지 않고 실시간으로 가능하기 때문에 외부의 환경 변화에도 문제없이 정확한 측정이 가능함. 이번 기술은 정액기술료 1.1억 원에 매출액 2%를 경상기술료로 지급받는 조건으로 광계측 장비 및 모듈 전문기업인 ㈜넥센서에 기술을 이전함

※ Scientific Reports 게재