나노기술 및 정책 정보

• 목록

건국대학교 전봉현 교수와 서울대학교 정대홍 교수 공동 연구팀이 한 번의 광학분석으로 표적물질을 정확하고 빠르게 검출할 수 있는 기술을 개발함. 연구팀은 미량의 물질도 즉각적으로 분석 가능한 ‘표면증강라만산란(SERS)’기술을 통해 내부 금속층은 정확한 정량분석이 가능하도록 표준 신호를 갖도록 함. 또 바깥 금속층은 표적물질의 고유광학 신호를 검출할 수 있도록 다층 금속나노 구조체를 만듦. 연구팀은 내부표준과 표적물질의 SERS신호 세기만으로 쉽고 간단하게 표적물질의 농도를 알 수 있는 시스템을 개발함. 실제 연구팀은 단 한번의 광학 분석으로 농약성분인 티람(thiram)의 정량검출 가능성을 보임. 연구팀은 이번 기술을 다양한 표적물질의 정량 고속 검출 시스템에 폭 넓게 활용 가능할 것으로 기대함

※ ACS Applied Materials & Interfaces 게재