성균관대-연세대 공동 연구팀, 초실감 디스플레이용 투명 반도체 결함제어 기술 개발
페이지 정보
- 발행기관
- 성균관대학교
- 저자
- 종류
- R&D
- 나노기술분류
- 나노정보전자
- 발행일
- 2023-11-13
- 조회
- 600
본문
● 조새벽 교수(성균관대) 및 조정호 교수(연세대) 공동 연구팀은 대면적 대량생산이 가능한 고성능 투명 디스플레이용 반도체 잉크의 결함제어 기술을 개발
● 연구팀은 모노아이오드화 구리(CuI) 소재의 결함생성이 나노미터 수준의 반도체 박막을 형성하는 고온의 공정과정에서 수분에 영향을 받아 자발적으로 일어난다는 점을 밝혀내고, CuI 반도체 소재를 잉크 형태로 구성하여 저온에서 박막을 형성하는 과정을 도입
● 또한, 이 과정에서 동역학적으로 나노구조 형성 및 수분의 흡착정도를 제어함으로써 결함형성을 원천적으로 차단하는 방법을 고안했으며, 이들을 투명한 고유전율투명 절연체 소재인 Sodium-Embeded Aluminia(SEA)와 결합함으로써 이론적 성능 한계치에 근접한 수준의 매우 높은 반도체 성능을 구현하는 데 성공
● 연구팀이 개발한 기술은 투명한 반도체 기술의 성능 한계를 돌파하고 대면적 대량생산을 구현할 수 있는 가능성을 열었으며, 향후 4차산업혁명 시대에 걸맞는 차세대 초실감형 투명 디스플레이 및 전자소자 분야의 주요 원천기술이 될 것으로 기대
Advanced Materials (2023.11.03.), Approaching Theoretical Limits in the Performance of Printed p-type CuI Transistors via Room Temperature Vacancy Engineering
- 이전글서강대-성균관대 공동 연구팀, 퀀텀닷 반도체 합성 기술 개발 23.11.21
- 다음글POSTECH, 금 나노 와이어 이용한 지능형 의료용 통합 센서 개발 23.11.21