나노기술 및 정책 정보

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● 진형민 교수(충남대) 및 김형섭 박사(한국원자력연구원), 박혁준 박사(한국표준과학연구원) 공동 연구팀은 중성자/X선 빔을 이용해 리튬이차전지용 하이 니켈(high-Ni) 양극재 내부에 존재하는 미세결함(미세기공)을 정량 분석하는 데 성공

● 연구팀은 중성자와 X선 소각산란기술을 활용했는데, 중성자/X선 빔을 이용해 하이 니켈 양극재 합성과정에서 나노크기 미세결함이 얼마나 발생하는지 정량 분석

● 이를 통해, 연구팀은 결함이 가장 적게 발생하는 최적의 합성 조건을 찾아내 기존 대비 배터리 수명을 약 10% 개선할 수 있는 방법도 제시

● 소각산란을 활용한 정량기공 분석은 0.1∼300nm 범위의 기공을 갖는 모든 소재의 분석이 가능한 강력한 분석법으로 이차전지 소재 외에 반도체 패키징소재, 엔지니어링 세라믹 등 기공이 주요한 역할을 하는 여러 산업군에서 난제 해결을 위해 폭넓게 활용 가능할 것으로 기대

Advanced Functional Materials (2023.10.06.), Toward a Nanoscale-Defect-Free Ni-Rich Layered Oxide Cathode Through Regulated Pore Evolution for Long-Lifespan Li Rechargeable Batteries