나노기술 및 정책 정보

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● 김동현 교수(연세대) 연구팀은 정확한 위치 측정이 어려웠던 형광 입자의 위치를 고해상도로 추정하고, 나노미터 수준의 형광 신호 왜곡을 보정할 수 있는 기술을 개발

● 연구팀은 허초점 이미지로부터 형광 입자의 형광 방출 각도 분포에 대한 정보를 얻어 전자기장 시뮬레이션 데이터와 비교하여 형광 입자의 위치를 정확하게 추정

● 해당 기술은 기존 방법보다 정확도가 3배 이상 높았으며, 형광 입자의 위치를 더욱 정확하게 파악

● 본 연구를 통해 금속 나노구조와 형광 입자 간의 상호작용 이해에 기여하고, 나아가 정밀한 단분자 영상화 및 트래킹에 적용이 가능할 것으로 기대

Light: Science & Applications (2023.09.18.), Defocused imaging-based quantification of plasmon-induced distortion of single emitter emission