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나노기술 및 정책 정보

[국내/R&D]X선 현미경 활용해 ‘블로흐 점’ 최초 관측 성공

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발행기관
동아사이언스
저자
 
종류
 
나노기술분류
 
발행일
2019-02-12
조회
2,682

본문

울산과학기술원 이기석 교수, 대구경북과학기술원 홍정일 교수 및 미국 로렌스버클리국립연구소(LBNL) 연구팀이 공동으로 차세대 정보처리 소자인 ‘3차원 위상 스핀 구조체에 필요한 핵심 구조를 실제 물질에서 관측하고 움직이는 데 세계 최초로 성공함. 연구팀은 아주 짧은 시간의 미세한 스핀 구조를 관측할 수 있는 LBNLX선 현미경(XM-1)을 이용해, 두께 100나노미터의 니켈-철 합금 원반 조각을 관찰함. 그 결과 자성체 내에서 전자의 양자역학적 성질 가운데 하나인 스핀이 정확히 0이 되는 특이점인 블로흐 점을 안정적으로 형성하고, 그 움직임을 관측하는 데 처음으로 성공함. 연구에는 LBNL의 실험장비 X선 현미경 ‘XM-1’을 활용함. 이번 연구로 초고속 반도체 소자 개발의 길을 열었다는 평가를 받음

Nature Communications 게재