일본 분수 전하 준입자의 안드레예프 반사를 관측
페이지 정보
- 발행기관
- 과학기술진흥기구
- 저자
- 종류
- R&D
- 나노기술분류
- 발행일
- 2021-05-14
- 조회
- 2,027
본문
일본전신전화(NTT), JST 등 국내외공동 연구팀이 반도체를 이용하여 전자 1개보다 작은 전하(분수 전하 준입자)의 ‘안드레예프 반사(Andreev reflection)’(이차원 전자계가 저온·강자장 중에서 나타내는 분수 양자 홀 상태에서 분수 전하 준입자가 계면에 입사할 때, 전자가 투과하여 분수 전하를 가는 정공이 반사되는 현상)를 관측하는 데 세계 최초로 성공함.
기존의 안드레예프 반사는 초전도체 특유의 현상으로 반도체에서 발생 가능성이 관측되지 않았으나, 본 실험을 통해 반도체에서 분수 전하 및 안드레예프 반사가 일어날 수 있음이 규명됨.
해당 연구를 통해 분수 양자 홀 상태와 일반적 전도체의 계면에서의 전하 이동 메커니즘을 밝히는 것으로, 준입자를 조작하는 양자 정보 디바이스 실현을 위해 중요한 지식을 제공할 것으로 기대됨. 본 연구 성과는 Nature Communications(Andreev reflection of fractional quantum Hall quasiparticles)에 게재됨.
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