미국 IBM, 세계 최초 ‘2나노 반도체’ 테스트칩 개발 성공
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- 한국경제
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- 나노기술분류
- 발행일
- 2021-04-29
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본문
IBM이 세계 최초로 2 나노미터(nm) 나노시트 기반 반도체 테스트칩 개발에 성공함.
이번 IBM의 2nm 테스트칩은 나노시트 기술을 바탕으로 개발된 첫 성공작으로, 그간 초미세 공정에서 주로 쓰여온 3D 구조 기반의 ‘핀펫(돌출형 게이트 배치)’ 방식이나 GAA(Gate All Around) 기반 ‘나노와이어(줄 모양의 게이트 배치)’ 방식과는 결이 다르며, 나노시트는 특히 5nm 이하의 공정에서 힘을 발휘할 것으로 평가됨.
손톱만한 크기의 2 nm 칩에 최대 500억 개의 트랜지스터를 장착할 수 있으며 더 작고, 더 빠르고, 더 안정적인 반도체를 구현하게 될 것으로 기대됨.
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