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스위스. 바젤 대학교(University of Basel)의 연구팀이 실리센(Silicene)의 2차원 구조를 AFM으로 표면 구조를 확인하고 표면 조도 및 요철에 대한 구조적 특성과 전자적 특성 간의 상호작용에 대하여 분석하는데 성공함.

실리센은 규소의 동소체로 그래핀과 유사하게 규소의 2차원 육각구조로 이루어져 있음. 연구팀의 실리센의 매우 낮은 표면 구조의 격차를 측정하기 위해 AFM의 팁 끝에 일산화탄소를 부착하여 개별 원자 수준의 표면 높이를 분석할 수 있었으며, 밀도 범함수 이론(DFT)에 의해 표면의 좌굴과 전자적 특성과의 상호작용에 대해 연구를 진행함.

본 연구성과는 ‘Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America’에 게재됨.