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토호쿠대학(東北大學) 다원물질과학연구소 등의 공동 연구그룹이 X선 반사율법과 X선에 대한 회절격자를 이용한 새로운 영상법(X선 회절격자간섭법)을 결합하여 이미지 검출기의 공간 해상도를 1000~10000배 상회하는 nm 스케일의 구조 정보를 비파괴·정량적으로 취득하는 데 성공함. 연구진은‘X선 회절격자간섭법’으로 동시에 취득 할 수 있는 세 장의 이미지 중 특히 Visibility Contrast 상에 주목하고 대비성을 정량적으로 분석하여 이미지 검출기의 각 화소에서 구조 매개 변수를 nm 수준에서 평가하는 방법을 개발함. 본 연구에서 이용한 X선 회절격자간섭법은 백색 방사광 같은 연속 X선 이용도 가능하며, 10μs 수준 이미징, ms 수준의 X선 토모그래피도 얻을 수 있음. 향후 표면·계면 역학의 고속 관찰 등 다양한 전개가 기대됨. 

본 연구 성과는 Scientific Reports 온라인 판에 공개됨.