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나노기술 및 정책 정보

EU [유럽/R&D]개별 원자의 전위를 측정하는 새로운 양자점 현미경

페이지 정보

발행기관
ScienceDaily
저자
 
종류
 
나노기술분류
 
발행일
2019-06-13
조회
2,247

본문

독일 율리히연구소(Forschungszentrum Juelich) 연구팀이 샘플의 전위를 원자 정확도로 측정하는 새로운 방법을 개발함. 기존의 방법으로는 개별 분자 또는 원자 부근에서 발생하는 전위를 정량적으로 분석하는 것이 불가능함. 연구팀이 개발한 양자점 현미경 스캐닝은 원자력 현미경 팁에 양자점인 단일 유기분자를 부착하며, 이 분자를 탐침 역할을 하게 됨. 새로운 스캐닝 양자점 현미경법은 칩 제조 또는 DNA와 같은 생체분자의 분석에 새로운 가능성을 제공할 수 있음. 본 연구 성과는 ‘Nature Materials’ 지에 게재됨