나노기술 및 정책 정보

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이화학연구소(RIKEN) 등 공동연구팀이 경X선 타이코그래피와 컴퓨터토모그라피(CT)를 조합하여 재료 시료의 3차원 공간 분해 X선 흡수미세구조(XAFS)를 취득하는 ‘3차원 경X선 스펙트로 타이코그래피(3D-HXSP)법’을 개발함. 또한 이를 이용한 데이터 과학 연계한 분석을 통해, 산소 흡장·방출 재료 입자에서 일어나는 산화 반응의 궤적을 시각화하는 데 성공함. 대형 방사광 시설인 ‘SPring-8’로 측정 한 결과, 타이코그래픽의 높은 공간 분해능을 유지하면서 세륨을 포함한 시료 입자의 3차원 공간 분해 XAFS스펙트럼의 측정 및 원자가 분포의 3차원 공간 시각화에 성공함. 본 연구 성과는 향후 다양한 첨단 기능성 재료의 나노 구조· 화학 상태 분석에 응용될 것으로 기대됨. 본 연구 성과는 ‘Communications Chemistry’ 지에 게재됨