미국 고해상도 나노스케일 이미징
페이지 정보
- 발행기관
- Phys.org
- 저자
- 종류
- R&D
- 나노기술분류
- 나노공정·분석·장비 > 나노측정·분석 기술
- 발행일
- 2024-10-23
- 조회
- 29
본문
● Igor Sokolov 교수(Tufts University) 연구팀은 원자간력 현미경(AFM)에 물리적 측정·머신 러닝을 결합하여 재료의 고해상도 이미징이 가능한 기계-분광 원자간력 현미경(AFM-MS) 기술 제시
● 연구팀은 원자간력 현미경을 사용하여 반복적으로 측정한 뒤 나노미터 미만의 측면 분해능으로 샘플의 여러 물리적 및 기계적 속성 맵을 수집하였으며, 이를 머신러닝 알고리즘을 활용하여 각 이미지 픽셀에서 구성 재료의 위치 식별에 성공
● 연구팀이 개발한 방법은 다양한 재료 혼합물에서 1.6nm 의 측면 분광 분해능을 달성하였으며, 기존 원자간력 현미경이 단일 색상으로 이미징했던 것과 달리 복합 원자 및 재료를 다른 색으로 구별 가능
● 해당 연구 결과는 새로운 기계적·전기적·광학적 특성을 갖는 재료를 연구하는 데에 핵심적인 역할을 할 것으로 기대
Materials Today (2024.09.13.), Mechanical spectroscopy of materials using atomic force microscopy (AFM-MS)
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