나노기술 및 정책 정보

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□ 주요내용

○ 전자구름의 화학적 조성과 자기 배열, 전자의 분포에 대한 연구는 매우 복잡하고 Nanocosmos 수준에서 발생하기 때문에 기존의 측정 방법으로는 거의 불가능 하다.

○ 또한 주사 투과형 전자 현미경을 통한 나노미터 수준의 측정은 연구 중간에 시편이 파괴되여 원래 분석하려던 특성이 변화되는 단점이 있다.

○ 뷔르쯔부르크 연구진과 캐나다, 미국 연구진으로 구성된 국제 협력 연구진은 이를 위한 새로운 측정 방법을 연구하였으며 „Advanced Materials“지에 발표 하였다.

○ 새로운 측정 방법은 비파괴 평가 방법으로 나노미터 수준의 해상도를 제공하고 화학 성분을 식별하며 자기 배열(magnetic order)및 전자 분포(electron distribution)를 결정한다.

○ 이 방법은 공진 X선 반사 측정(resonant X-ray reflectometry)의 더욱 발전된 형태로 층구조 계면에 수 나노미터 파장을 갖는 X선의

산란을 기반으로 하며 측정된 데이터는 공간적 해상도를 나타내는 이미지를 생산하는 광학 홀로그래피 방법과 유사하게 처리된다.