미국 [미국/R&D]X-선 현미경 속도를 10배 향상
페이지 정보
- 발행기관
- ScienceDaily
- 저자
- 종류
- 나노기술분류
- 발행일
- 2018-11-19
- 조회
- 2,839
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본문
브룩헤이븐국립연구소 연구팀이 NSLS-II의 전자계 X-선 이미징(Full Field X-ray Imaging) 빔라인을 사용하여 이전보다 빠른 속도로 3차원 이미지를 얻는 데 성공함. 연구팀이 개발한 현미경으로 10분 이상 걸리는 측정 시간을 1분으로 단축했으며 50nm 이하의 뛰어난 해상도로 3차원 이미지를 얻는 것이 가능함. 연구팀은 구리의 은 표면에 은 덴드라이트의 성장을 측정했으며, 1분에 1,060개의 2차원 이미지를 얻고 이를 재구성하여 3차원 이미지를 얻음. 이 장비를 이용하여 화학 반응의 3차원 애니메이션을 만들 수 있으며, 배터리와 같은 소재가 부식되는 과정 등을 측정하는 것이 가능함. 본 연구 성과는 ‘Applied Physics Letters’ 지에 게재됨
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