나노기술 및 정책 정보

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산업기술종합연구소(AIST) 등 공동 연구팀이 미약 신호를 고효율로 검출할 수 있는 ‘Lock-in 적외선 발열 해석법’을 이용하여 대면적 그래핀 막의 다양한 미세결함 구조를 고속·고정밀도로 시각화하는 이미징 평가 기술을 개발함. 일반적으로 CVD법으로 합성된 그래핀은 다양한 결함 구조가 존재하기 때문에 전기적 특성이 크게 저하되는 문제가 있음. 연구진은 전압을 인가했을 때 발생하는 줄(Joule) 열을 높은 효율로 검출하여, 그래핀의 전기적 특성을 저하시키는 요소와 관련, 탄소–탄소 결합의 절단 등 원자 수준의 구조들이 혼란스럽게 구성된 결정입계와 같은 미세한 결함을 수 분 안에 식별하는 기술을 개발함. 그래핀은 다양한 분야에서의 활용이 기대되는 만큼, 대면적 그래핀에 존재하는 아주 미세한 결함을 신속하게 시각화하는 평가 도구로 기여할 것으로 기대됨. 본 연구 성과는 ‘Science Advances’ 지에 게재됨