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나노기술 및 정책 정보

기타 [기타/R&D]미래 나노 전자공학의 열쇠가 될 위상 결함

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발행기관
Nanowerk News
저자
 
종류
 
나노기술분류
 
발행일
2019-02-25
조회
4,067

본문

호주 뉴사우스웨일스대학교(University of New South Wales) 연구팀이 물질의 결함인 위상 구조(topological structure)에 대한 새로운 연구와 나노기술 및 나노 전자공학에서의 잠재력에 대해 발표함. 최근 고해상도 전자현미경(HREM)과 주사탐침현미경(SPM)을 이용하여 위상 구조가 거시적 재료의 특성에 상당한 영향을 미친다는 것이 밝혀짐. 위상 구조는 나노전자공학 및 새로운 기기 개념에서 상당한 잠재력을 가지고 있으며, 강성(ferroic) 소재의 새로운 기능성을 설계하고 이해하는 열쇠를 제공할 것으로 기대함. 본 연구는 ‘Nature Materials’ 지에 게재됨