미국 [미국/R&D]저가 반도체에서 거의 완벽한 성능을 측정
페이지 정보
- 발행기관
- EurekAlert! News
- 저자
- 종류
- 나노기술분류
- 발행일
- 2019-03-15
- 조회
- 2,857
- 출처 URL
본문
스탠퍼드대학교(Stanford University) 연구팀이 양자점의 품질에 대한 오랜 불확실성으로 해소할 수 있는 양자점 효율을 정확하게 평가하는 새로운 기술을 개발함. 연구팀은 양자점이 얼마나 효율적으로 흡수하는 빛을 흡수하는지에 초점을 맞추어 반도체 품질에 대한 한 가지 지표를 제시함. 고효율 양자점을 평가하기 위해 1,000분의 1미만의 정확도로 발광 효율을 측정하는 기법을 개발함. 이러한 측정 기술의 개발은 반도체의 효율성을 까다롭게 측정하는 것이 필요한 새로운 기술 및 재료의 개발로 이어질 수 있음. 본 연구 성과는 ‘Science’ 지에 게재됨
- 이전글[미국/R&D]분리를 위한 복잡한 전기 화학적 계면의 원자 단위 제어 19.03.26
- 다음글[미국/R&D]양자점 제조에 혁명을 일으킬 나노 결정 '공장' 19.03.26