나노기술 및 정책 정보

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● 독일 Claire Donnelly 박사(Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids) 연구팀은 스위스 광원 SLS에서 X선 선형 이색 반향 단층 촬영(XL-DOT, X-ray linear dichroic orientation tomography)이라는 기술 개발

● 연구팀은 황산 생산에 사용되는 직경 약 1마이크론의 바나듐 펜톡사이드 촉매 덩어리에 XL-DOT 방법을 적용, 결정립·입자가 만나는 경계·결정 방향의 변화를 포함한 촉매 구조의 미세 사항 식별에 성공

● 해당 연구 결과의 비파괴적이고 분광학적 특성은 배터리·촉매·생물학적 조직 등 모든 유형의 재료에 활용이 가능하며, 미세 구조가 재료 성능에 미치는 역할을 분석해 미래 디바이스 개선에 기여할 수 있을 것으로 기대

Nature (2024.12.11.), X-ray linear dichroic tomography of crystallographic and topological defects