EU EU, 나노테크놀로지 위험 연구 지원 미국 추월 L`Europe devance les Etats-Unis en terme de…
페이지 정보
- 발행기관
- 유럽연구개발정보서비스
- 저자
- 나노R&D
- 종류
- 나노기술분류
- 발행일
- 2008-04-28
- 조회
- 5,481
본문
새로 부각되는 나노테크놀로지 프로젝트(PEN, Project on Emerging Nanotechnologies)의 일환으로 작성된 한 보고서에 의하면, 유럽은 나노테크놀로지가 초래할 수 있는 잠재적인 위험 연구(nanotech risk research)를 위해서 미국의 약 두 배의 예산을 지원한다. PEN은 미국의 "우드로윌슨 센터"와 "퓨 자선재단(Pew Charitable Trusts)"의 이니셔티브이다. 미국의 "국가 나노테크놀로지 개발전략(NNI, National Nanotechnology Initiative)"은 2006년 회계연도에 나노테크놀로지의 위험과 관련된 프로젝트들을 위해서 1300만 달러(810만 유로)를 할당한 반면에, 유럽은 같은 시기에 2400만 달러(1500만 유로)를 투입한 것으로 집계되었다. 이번 연구는 NNI의 연구 프로그램에서 작성된 데이터들을 기반으로 행해졌다. PEN의 평가에 의하면 미국 정부에 의해서 1300만 달러가 지원된 62개의 나노테크놀로지 프로젝트가 환경, 보건위생 혹은 안전에 대해 시급한 것으로 간주될 수 있다. 미국 정부는 이에 이의를 제기하면서, 나노테크놀로지와 연결된 위험 부문의 연구를 위해서 투자된 액수는 3770만 달러(2360만 유로) 수준이라고 주장한다 안전한 나노테크놀로지의 개발로 연결되어야 할 연구 프로그램들의 산출 시 현실에 대한 그들 희망사항을 고려한 것이라고 PEN의 Andrew Maynard 과학자문은 평가했다. Maynard 자문은 "미국 정부가 나노 소재를 위험하게 하는 것이 무엇일까? 그것이 어떻게 안전하게 사용될 수 있을까? 등의 현재 제기되는 직접적 문제들에 대한 답을 구하는 연구"를 "나노테크놀로지에 연결된 잠재적인 위험에 대한 일반적인 과학적 이해에 기여할 수 있는 연구"로 대신하려 한다고 지적한다. 미국 정부의 수치와 PEN의 평가 결과는, 14억 달러(8억 7600만 유로)의 미연방 나노테크놀로지 연구 예산의 3%도 안 되는 부분이 환경, 보건위생, 안전 연구로 투입되었음을 보여준다고 Maynard는 덧붙인다. 그렇지만 기금의 최소한 10%(1억 5천만 달러, 즉, 9400만유로)가 위험 연구로 투입될 수 있도록 NNI의 전략의 수정을 정하는 법안이 제안되었다. 반면에 유럽연합은 나노테크놀로지 연구 분야에서 이러한 위험과 연결된 관심을 문제의 균형적인 접근을 위한 중요한 일부로 통합시켰다. 2007년 4월 브뤼셀에서 열린 한 컨퍼런스를 통해서, 유럽의 과학연구담당 포토치닉 집행위원은 공공위생, 안전, 환경보호와 소비자가 중시되어야 한다고 확인하였다. 올 초에 집행위원회는 나노테크놀로지 분야에서의 책임 있는 연구를 표방하면서, 나노테크놀로지를 위험 없이 발전시키기 위한 7가지의 일반 원칙을 정하는 행동준칙을 채택했다. 이들 원칙들은 특별히 지속가능성(sustainability), 예방 조치(precaution), 그리고 연구원들과 연구기관의 책임성(accountability) 등을 포함한다. 더욱이, 나노테크놀로지의 안전 부문 연구를 위한 지원은 생태동물학에서의 양적 데이터, 특수 나노테스트, 노출, 그리고 전 과정 분석(life cycle analysis) 등을 강조하면서, 제 7차 프레임워크 프로그램의 일환으로 연장되었다. 제 7차 프레임워크 프로그램은 세계 최대의 공공지원 규모인 총 35억 유로라는 예산을 나노테크놀로지 부문에 할당하고 있다. 전문가들의 분석에 의거하면 2014년까지 세계 총 제조 제품의 생산의 15% 정도가 (2.6조 달러, 1.6조 유로) 나노테크놀로지 기술을 사용하게 될 것으로 전망된다. 나노테크놀로지가 차지하는 위치나 역할이 점점 커져가고, 그에 대한 종속도 역시 증대될 것을 감안하여, 그의 잠재적 위험성에 대한 연구와 지식 획득은 필수적인 기반이 되어야 할 것이라고 판단된다. * yesKISTI 참조 |